Continuity testing probe

통전 시험용 프로브

Abstract

본 발명의 통전 시험용 프로브는, 제1 방향으로 연장되는 암 영역과, 상기 암 영역의 제1 방향과 교차하는 제2 방향에 있어서의 한쪽에 이어지는 침선 영역을 포함하며, 제1 및 제2 방향과 교차하는 방향을 두께 방향으로 하는 판 형상을 갖는다. 침선 영역은, 암 영역에 이어지는 대좌부와, 그 대좌부에 이어지는 접촉부를 포함하며, 접촉부는 대좌부의 일부를 형성하는 기부와, 상기 기부에 이어지며 또한 대좌부로부터 제2 방향으로 돌출된 돌출부를 포함한다. 이로써, 접촉부의 손상이 방지된다.
A continuity testing probe includes an arm area which extends in a first direction, and a needlepoint area continuous to one side in a second direction intersecting one direction of the arm area. The continuity testing probe has a board shape whose thickness direction is permitted to be a direction that intersects with the first and the second directions. The needlepoint area includes a pedestal part continuous to the arm area, and a contact part continuous to the pedestal part. The contact part includes a base part which forms a part of the pedestal part, and a protruding part which is continuous to the base part and protrudes in the second direction from the pedestal part. Thus, the contact part is prevented from being damaged.

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    KR-101468390-B1December 04, 2014가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스콘택트 프로브 및 프로브 카드